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經(jīng)濟(jì)型掃描電鏡是從光學(xué)到電子顯微鏡轉(zhuǎn)換的理想工具。它是高分辨率成像的經(jīng)濟(jì)型解決方案，可提供成像結(jié)果。具有景深大、分辨率高，成像直觀、立體感強(qiáng)、放大倍數(shù)范圍寬以及待測(cè)樣品可在三維空間內(nèi)進(jìn)行旋轉(zhuǎn)和傾斜等特...

進(jìn)口掃描電鏡是使用較為廣泛的分析工具之一，因?yàn)樗梢钥焖偬峁悠繁砻婧徒砻娴母叻直媛屎透呔吧顖D像。結(jié)合微切刀的能力，它可以提供亞納米分辨率的橫截面圖像，并縮短周轉(zhuǎn)時(shí)間。因其作用特點(diǎn)，目前已廣泛用于材...

進(jìn)口涂鍍層厚度分析儀是一款快速且簡(jiǎn)便測(cè)量而設(shè)計(jì)的測(cè)厚儀。采用先進(jìn)的測(cè)量技術(shù)，如X射線熒光分析、渦流測(cè)試、磁感應(yīng)等方法，能夠?qū)崿F(xiàn)非破壞性、快速和精準(zhǔn)的涂層厚度測(cè)量。這些技術(shù)允許儀器在不損害基材和涂層的前...

在線合金分析儀可進(jìn)行全自動(dòng)在線分析，可對(duì)大批量生產(chǎn)、處理的產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)質(zhì)量控制。是一種已經(jīng)過(guò)實(shí)地驗(yàn)證的分析技術(shù)，通常用于對(duì)產(chǎn)品的合金級(jí)別和化學(xué)成份進(jìn)行快速無(wú)損驗(yàn)證。

蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡是一種電子顯微鏡設(shè)備，用于材料科學(xué)、納米技術(shù)和各種表面分析領(lǐng)域的高分辨率成像和分析工作。設(shè)備通過(guò)創(chuàng)新的電子光學(xué)系統(tǒng)和新型樣品腔室設(shè)計(jì)，提供了更佳的圖像質(zhì)量、易用性和靈活性。助您輕松實(shí)...

進(jìn)口鍍層測(cè)厚儀,iEDX-150μT毛細(xì)管鍍層測(cè)厚儀主要是針特殊鍍層厚度檢測(cè)：化學(xué)鍍鎳鈀浸金、鈀、 鎳、 銠等；對(duì)于微小樣品、超薄的稀有金屬鍍層有很好的表現(xiàn)，適合單層、 多層、合金鍍層檢測(cè)。

鋁塑膜厚度分析儀,iEDX-150AT(S)鋁塑膜鋁層厚度測(cè)試儀是一款廣泛應(yīng)用于手機(jī)、車載、電子電器、航空航天等新型能源電池外包鋁塑膜鋁層厚度測(cè)試的儀器，也可用于食品包裝，煙草等鋁，錫薄膜厚度的檢測(cè)。

iEDX-150/OT在線鍍層測(cè)厚儀,進(jìn)口鍍層測(cè)厚儀主要應(yīng)用于工業(yè)鍍層在線，PCB鍍層在線等行業(yè)，實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品實(shí)時(shí)檢測(cè)，數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)存儲(chǔ)，實(shí)時(shí)判定產(chǎn)品質(zhì)量等功能。

iEDX-150WT型PCB鍍層測(cè)厚儀；專業(yè)用于PCB鍍層厚度測(cè)量，鍍層厚度分析，金屬電鍍鍍層分析；集成了鍍層測(cè)厚界面和合金成分分析界面；可同時(shí)分析鍍層中的合金成分比例。

鋁塑膜R角厚度分析儀,iEDX-150AT型R角厚度分析儀是一款應(yīng)用于鋁塑膜厚度分析，電池外包鋁塑膜沖坑形變后的厚度檢測(cè)，超薄不銹鋼膜片厚度分析等。